(untitled) (MCIT: Proceedings of International scientific and practical conference, 2025)
Проведено огляд основних підходів до математичного моделювання процесів у пристроях напівпровідникової електроніки з урахуванням багатомасштабності та граничних шарів. Окреслено перспективи розвитку мультифізичних моделей із використанням методів теорії збурень, алгоритмів машинного навчання для потреб сучасної напівпровідникової промисловості.